数字万用表测电容
电容器是我们在电子中使用最常见的电子元件,但很多人不知道如何检测电容器。让我们介绍几种用万用表测试电容器的方法。电容器是最常用的电子元件之一。电容器的通用文本符号为C。电容器主要由金属电极、介质层和电极引线组成,两个电极相互绝缘。因此,它具有隔离流通的基本性能。
000p档位应小于2000pF的电容;20n2万pF至20nF两者两者之间的电容;2.00n适合测量20档nF至200nF两者之间的电容;2.μ适合测量20档0nF至2μF两者之间的电容;2.0μ适用于测量2μF至20μF之间的电容。
例一:被测电容为1μF/160V固定电容器,使用DT2830型数字万用表VDC档(RIN=10MΩ)。按图5-12连接电路。最初,仪器显示1.543V,然后显示值慢慢减小,大约2次min显示值稳定在0左右.003V。因此,发现被测电容器的漏电流
实践证明,电容器的充电过程也可以通过使用数字万用表来观察,这实际上反映了充电电压的变化。设置数字万用表的测量速率为n次/秒,在观察电容器充电的过程中,每秒可以看到n个*且依次增加的读数。根据数字万用表的显示特性,可以检测电容器的质量,估计电容量。以下是使用数字万用表电阻档检测电容器的方法,对未设置电容档的仪器具有实用价值。该方法适用于测量0.1μF~大容量电容器电容器。
电阻档测电容好坏
(4)被测电容器Cx大于1μF为缩短测量时间,可使用电阻档进行测量。但当被测电容器的容量小于200时pF充电过程很难观察,因为读数变化很短。
图输入电压VIN(t)与被测电容上的充电电压Vc(t)变化曲线。由图可见,VIN(t)与Vc(t)变化过程正好相反。VIN(t)随着时间的增加,变化曲线减少,Vc(t)随着时间的增加而增加。虽然仪器显示的是VIN-(t)变化过程间接反映了被测电容器Cx充电过程。如果Cx如果开路(无容量),显示值总是000Cx内部短路,显示值总是电池电压E,不随时间变化。
使用数字万用表电压档检测电容器,不仅可以检查220pF~1μF小容量电容器还可以同时测量电容器泄漏电流的大小。被测电容器的泄漏电流为ID,仪器最终显示的稳定值为VD(单位是V),则Id=Vd/Rin.
相信目前好多人对于万用表测量电容方法方面的知识都特别想要了解,那么周先生也是在网络上收集了一些关于万用表测电容三种方法相关的信息来分享给大家,希望能够帮助到大家哦。
测量电容好坏简单方法
用数字万用表直流电压档检测电容器实际上是一种间接测量方法,可以测量220pF~1μF小容量电容器,能准确测量电容器漏电流的大小。
(3)测量过程中,VIN(t)值随指数规律变化,开始时迅速下降。随着时间的推移,下降速度会越来越慢。当测量电容器Cx当容量小于几千皮法时,因为VIN(t)一开始下降太快,仪器的测量速低,没有时间反映原始电压值,所以仪器的原始显示值低于电池电压E。
一些数字万用表具有测量电容的功能,其范围分为2万p、20n、200n、2μ和20μ五档。测量时,放电的电容器两引脚可直接插入表板Cx选择适当的量程后,插孔可以读取显示数据。
使用DT830型数字万用表估计0.1μF~当成千上万微法电容器的电容量时,可根据表5-1选择电阻给出可测电容器的范围和相应的充电时间。表中列出的数据对其他型号的数字万用表也有参考价值。
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